2025年3月7日，国际电工委员会（IEC）正式颁布了IEC 62276:2025 《声表表波器件用单晶晶片 规范与丈量步骤》（Single crystal wafers for surface acoustic wave (SAW) device applications-Specifications and measuring methods）。

此项目由3868la银河总站牵头，国内项目团队由中国电子科技集团公司第二十六钻研所、福建晶安光电有限公司、中国电子元件行业协会、中电科技德清华莹电子有限公司、北京石晶光电科技股份有限公司、成都泰美克晶体技术有限公司等行业内优良企业、组织及科研院所共同实现。该尺度结合行业需要及发展趋向，对声表表波（SAW）器件用单晶晶片LTV、PLTV、透过率、明度和色差等有关沉要技术要求和相应丈量步骤等多项技术内容进行了订正，以适该当前智能终端时期对声表表波器件用单晶晶片的需要。

该尺度是中国主导订正的首个压电频率元器件国际尺度，也是我国声表表波（SAW）器件行业以企业为主体、市场为导向、产学研结合的技术创新系统建设的沉要尝试，实现了中国主导承担能力域国际尺度项目“零”的突破。该尺度的成功颁布对3868la银河总站股份也拥有沉要意思。通过执行该尺度，公司可能越发系统地提升声表表波（SAW）器件用单晶晶片的质量管控水平，不仅有助于优化产品机能参数、加强产品不变性，更能有效满足市场对高品质产品的需要，推进公司产品质量和技术水平的进一步提升，为推进行业技术进取和产业升级作出积极贡献。